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W200 晶圆自动测试附件
W200是一款自动的反射、透射测试附件,可用于半导体晶圆的C、O含量,外延层厚度测试,也可用于其它有多样品、自动分析需求的应用场景。
8度角反射附件
可用于玻璃辐射率测量,配套辐射率计算软件
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